IEEE Transactions on Reliability - 巻 72 / 号 2
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| 著者 | 巻 | 号 | ページ | 年 | PKV | ||||
| Performance-Driven Metamorphic Testing of Cyber-Physical Systems | |||||||||
| Jon Ayerdi, Pablo Valle, Sergio Segura, Aitor Arrieta, Goiuria Sagardui, Maite Arratibel | 72 | 2 | 827–845 | 2023 | 0.0 | ||||
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| Duplicate Bug Report Detection Using an Attention-Based Neural Language Model | |||||||||
| Montassar Ben Messaoud, Asma Miladi, Ilyes Jenhani, Mohamed Wiem Mkaouer, Lobna Ghadhab | 72 | 2 | 846–858 | 2023 | 0.0 | ||||
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