Micron-scale experimental-numerical characterization of metal-polymer interface delamination in stretchable electronics interconnects
['S.M. Kleinendorst', 'R. Fleerakkers', 'E. Cattarinuzzi', 'P. Vena', 'J.P.M. Hoefnagels']
/
International Journal of Solids and Structures
/ Vol. 204
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか？