Image-based interface characterization with a restricted microscopic field of view
['A.P. Ruybalid', 'J.P.M. Hoefnagels', 'O. van der Sluis', 'M.G.D. Geers']
/
International Journal of Solids and Structures
/ Vol. 132
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか？