Scanning thermal microscopy method for thermal conductivity measurement of a single SiO2 nanoparticle
['Wencan Chen', 'Yanhui Feng', 'Lin Qiu', 'Xinxin Zhang']
/
International Journal of Heat and Mass Transfer
/ Vol. 154
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか？