Powered by Engineering Brain, Japan | What is PKV? | PKV Methodology | KnowledgeRank v4.0.0: PKV Trends of My Authored Papers Are Now Available on My Page

The Influence of X-Ray Computed Tomography Acquisition Parameters on Image Quality and Probability of Detection of Additive Manufacturing Defects

['Felix H. Kim', 'Adam L. Pintar', 'Shawn P. Moylan', 'Edward J. Garboczi']   /   Journal of Manufacturing Science and Engineering / Vol. 141 / No. 11
0.0 / 5
0 件のレビュー
レビュー投稿、編集、削除にはログインが必要です。
ログイン
評価の内訳
5
0%
4
0%
3
0%
2
0%
1
0%

まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか?