In situ monitoring and ex situ TEM analyses of spinel (MgAl\(_2\)O\(_4\)) growth between (111)-oriented periclase (MgO) substrates and Al\(_2\)O\(_3\) thin films
['L. C. Götze', 'R. Milke', 'R. Wirth']
/
Journal of Materials Science
/ Vol. 51
/ No. 19
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