Locally Repairable Codes Constructed From Attention Model
['Yansheng Wu', 'Tongfan Ji', 'Jin Ma', 'Weibei Fan', 'Gongzhi Luo']
/
IEEE Transactions on Reliability
/ Vol. 75
/ No. 1
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか?