Classical and Bayesian Estimation for the Parameters of a Competing Risk Model Based on Minimum of Exponential and Gamma Failures
['Rakesh Ranjan', 'Satyanshu K. Upadhyay']
/
IEEE Transactions on Reliability
/ Vol. 65
/ No. 3
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか？