A Prognostic Model for Stochastic Degrading Systems With State Recovery: Application to Li-Ion Batteries
['Zheng-Xin Zhang', 'Xiao-Sheng Si', 'Chang-Hua Hu', 'Michael G. Pecht']
/
IEEE Transactions on Reliability
/ Vol. 66
/ No. 4
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか？