Prognostics Based on Stochastic Degradation Process: The Last Exit Time Perspective
['Jian-Xun Zhang', 'Dang-Bo Du', 'Xiao-Sheng Si', 'Yang Liu', 'Chang-Hua Hu']
/
IEEE Transactions on Reliability
/ Vol. 70
/ No. 3
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか？