Can Higher-Order Mutants Improve the Performance of Mutation-Based Fault Localization?
['Haifeng Wang', 'Zheng Li', 'Yong Liu', 'Xiang Chen', 'Doyle Paul', 'Yuxiaoyang Cai', 'Luxi Fan']
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IEEE Transactions on Reliability
/ Vol. 71
/ No. 2
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