Novel Discriminant Locality Preserving Projection Integrated With Monte Carlo Sampling for Fault Diagnosis
['Yan-Lin He', 'Kun Li', 'Li-Long Liang', 'Yuan Xu', 'Qun-Xiong Zhu']
/
IEEE Transactions on Reliability
/ Vol. 72
/ No. 1
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか?