Sequential Bayesian Planning for Accelerated Degradation Tests Considering Sensor Degradation
['Kangzhe He', 'Qiuzhuang Sun', 'Min Xie', 'Way Kuo']
/
IEEE Transactions on Reliability
/ Vol. 72
/ No. 3
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか？