Reliability Engineering in a Time of Rapidly Converging Technologies
['Shiuhpyng Winston Shieh', 'Jeff Voas', 'Phil Laplante', 'Jason Rupe', 'Christian Hansen', 'Yu-Sung Wu', 'Yi-Ting Chen', 'Chi-Yu Li', 'Kai-Chiang Wu']
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IEEE Transactions on Reliability
/ Vol. 73
/ No. 1
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