A Built-in Test Circuit for Electrical Interconnect Testing of Open Defects in Assembled PCBs
[' Widiant', 'Masaki HASHIZUME', 'Shohei SUENAGA', 'Hiroyuki YOTSUYANAGI', 'Akir ...']
/
IEICE Transactions in Information and Systems
/ Vol. 99
/ No. 11
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか？