Reseeding-Oriented Test Power Reduction for Linear-Decompression-Based Test Compression Architectures
['Tian CHEN', 'Dandan SHEN', 'Xin YI', 'Huaguo LIANG', 'Xiaoqing WEN', 'Wei WANG']
/
IEICE Transactions in Information and Systems
/ Vol. 99
/ No. 11
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか？