Robust Statistical Inference for Accelerated Life-Tests With One-Shot Devices Under Log-Logistic Distributions
['María González-Calderón', 'María Jaenada', 'Leandro Pardo']
/
IEEE Transactions on Reliability
/ Vol. 75
/ No. 1
まだレビューは投稿されていません。あなたが最初のレビューを書きませんか？