Lifetime estimation for optocouplers using accelerated degradation test
['Minkoo Kang', 'Sunjae Lee', 'Heedo Park', 'Joongsoon Jang', 'Sangchul Park', 'Jong‐Ho Kim', 'Chan‐Sei Yoo']
/
Quality and Reliability Engineering International
/ Vol. 38
/ No. 1
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